Loddebarheds- og SIR test | GEN3 Systems

Gen3 Systems
Loddebarheds- & SIRtest

Gen3 Systems

Gen3 Systems har I over 40 år leveret test- og måleudstyr til elektronikindustrien. I 3 generationer har de designet, udviklet og distribueret deres udstyr for at sikre dit kredsløb ikke fejler.

Testudstyr

I over 20 år har Gen3 arbejdet tæt sammen med National Physical Laboratory (NPL). Dette unikke forhold har hjulpet i udviklingen af MUST- og AutoSIR-testsystemerne samt hjulpet med at definere nye måleteknikker og udstyr. Gennem dette forhold beskæftiger de sig også med international standard udvikling gennem BSi, IEC og IPC.

Forskelligt testudstyr

AUTOCAF 2 Ledende anodisk filamentovervågningssystem. Måling af påvirkninger af elektrokemiske reaktioner under overfladen.
AutoCAF kan måle op til 256 individuelle målesider under betingelser med høj luftfugtighed og temperatur i overensstemmelse med IPC-TM-650 2.6.25 Testmetode & IPC 9691 CAF Test Brugsanvisning.

DC 2000 NANO er et lille laboratorium batch belægning system designet til den høje præcision anvendelse af konformelle belægninger og foto-resists på substrater ved dip belægning.